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高精度、高速、一體式丨Santec晶圓測厚系統(tǒng) TMS-2000 | |
7/19/2024,光纖在線訊,在半導體制造領域,晶圓的厚度測量對于確保產(chǎn)品質量和性能至關重要。隨著技術的發(fā)展,行業(yè)對晶圓平整度和厚度的測量精度要求越來越高。SantecTMS-2000高精度晶圓測厚系統(tǒng),為高精度測量提供定制化解決方案。
Sanetc的TMS-2000系統(tǒng)以非接觸方式測量晶圓平整...... 2024-07-19 08:50:17 | |
Santec推出TMS-2000高精度晶圓厚度測量系統(tǒng) | |
5/28/2024,光纖在線訊,隨著半導體技術的不斷進步,晶圓的制造精度要求也日益提高。Santec針對這一需求,推出了TMS-2000高精度晶圓厚度測量系統(tǒng),旨在解決晶圓表面研磨厚度不均和拋光均勻度等問題,從而有效避免因晶圓厚度不均導致的封裝問題。
TMS-2000系統(tǒng)采用非接觸方式測量晶圓的厚...... 2024-05-28 16:33:09 | |
新品 | 圣德科推出高精度晶圓厚度測量系統(tǒng) TMS-2000 | |
1/04/2023,光纖在線訊,近日,專注于可調(diào)激光器、掃描測試系統(tǒng)的圣德科(上海)光通信有限公司(Santec)面向晶圓測量領域,推出了全新的晶圓厚度測量系統(tǒng)TMS-2000,應用于高精度晶圓厚度測量。
全新推出的高精度晶圓厚度測量系統(tǒng)TMS-2000,可以對晶圓表面的研磨厚度不均、拋光均勻...... 2023-01-04 11:54:50 |