6/21/2004，新興光測試儀表廠商Circadiant Systems今天宣布將在SUPERCOMM 2004上介紹最新的同時(shí)支持電Stressed 眼圖檢測和光Streesed眼圖檢測的功能。這種電子檢測的能力意在支持一些如OIF的工程標(biāo)準(zhǔn)那樣的發(fā)展中的標(biāo)準(zhǔn)。按照Frost & Sullivan 的說法，Circadiant擁有optical stressed receiver 測試市場最大的份額。在標(biāo)準(zhǔn)中采用降級的眼圖測試信號方法對于系統(tǒng)互通性是十分重要的。Circadiant這項(xiàng)新的電子眼圖測試性能將測試XFP收發(fā)器的XFI電接口指標(biāo)，還可以進(jìn)一步拓展到用來測試其他收發(fā)器和線路卡。Circadiant 將在OST平臺上增加這種電測試能力。