安捷倫(Agilent)推出一款重新經(jīng)過設(shè)計且徹底增強的光子全參數(shù)分析儀，這個全功能的解決方案主要用來測試及驗證如10Gb/s和40Gb/s DWDM等重要的光學(xué)組件。該公司表示，這個新的解決方案提供測試結(jié)果的速度是以往的10倍，它能協(xié)助光纖網(wǎng)絡(luò)組件工程師與制造商大幅降低開發(fā)與生產(chǎn)的成本。 增強型的Agilent 81910A光子全參數(shù)分析儀，色散量測軌跡可以實時地更新，以利于線上的制程控制與調(diào)整。此外，為了能夠在1472 nm到1620 nm的超大范圍內(nèi)進行全參數(shù)量測，因此搭配了Agilent 81600B全頻帶雷射模塊，據(jù)稱其所提供的調(diào)諧范圍是目前任何一款可調(diào)式雷射模塊所不能及的。 81910A還有助于促進下一代光子組件的設(shè)計，因為可以直接取得Jones矩陣資料。而新的軟件能配合不斷改變的需求，讓您無限制地進行埠的測試以提高測試儀器的投資報酬率，其涵蓋耦合器、光纖光柵、薄膜濾波器及數(shù)組波導(dǎo)光柵等更廣泛組件所需。 Agilent 81910A能測試所有的光學(xué)組件參數(shù)，例如頻譜和極化相依損耗、波群延遲、以及差動波群延遲等。這些效能參數(shù)是優(yōu)化高速、窄距的DWDM傳輸系統(tǒng)的過程中不得不重視的因素。有別于傳統(tǒng)使用電子調(diào)變訊號的方法，Agilent 81910A采用了一種全光學(xué)的方法，來同時提供傳輸與反射的全參數(shù)量測。 而相較于利用個別的單一參數(shù)測試組件所執(zhí)行的量測，此種技術(shù)只需要連接到待測組件一次，因此可將測試的不確定性與組件的處理時間減到最低。新的軟件加入了一系列的分析算法，包括將波群延遲轉(zhuǎn)換成色散，以及將差動波群延遲轉(zhuǎn)換成極化模式色散。新的應(yīng)用程序接口(API)則是提供了從遠(yuǎn)程控制儀器的能力，除了有助于順利整合到制造環(huán)境外，還能支持先進的量測解決方案的簡易實作。