導(dǎo)讀:東莞銘普光磁于近日取得一項(xiàng)中華人民共和國國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的“光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)”發(fā)明專利證書。
3/19/2021,光纖在線訊,東莞銘普光磁股份有限公司(以下簡稱“公司”或“銘普光磁”)公告稱:公司于近日取得一項(xiàng)中華人民共和國國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的“光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)”發(fā)明專利證書。
具體情況如下:
證書號(hào):第 4301694 號(hào)
發(fā)明名稱:光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
專利號(hào): ZL 2019 1 1403766.3
專利類型:發(fā)明專利
專利申請(qǐng)日:2019 年 12 月 30 日
專利權(quán)人:東莞銘普光磁股份有限公司
授權(quán)公告日:2021 年 03 月 16 日
專利權(quán)期限:20 年(自申請(qǐng)日起算)
本申請(qǐng)公開一種光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),其中,光功率監(jiān)測方法包括:獲取待監(jiān)測光模塊的校準(zhǔn)參數(shù);根據(jù)所述校準(zhǔn)參數(shù)計(jì)算得所述待監(jiān)測光模塊的第一光功率偏差;根據(jù)所述校準(zhǔn)參數(shù)、第一光功率偏差計(jì)算得到所述待監(jiān)測光模塊的參考光功率;根據(jù)所述參考光功率、所述校準(zhǔn)參數(shù)、所述第一光功率偏差計(jì)算得到所述待監(jiān)測光模塊的當(dāng)前光功率。本申請(qǐng)能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)光模塊的光功率監(jiān)測的同時(shí),還具有占用光模塊運(yùn)行資源少、成本低等優(yōu)點(diǎn)。
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