9/16/2021，光纖在線訊，專注于光器件、光模塊、光電芯片的生產(chǎn)和測試設(shè)備制造商--獵奇智能宣布推出半導(dǎo)體測設(shè)備。用于LD芯片（BAR條）光電性能檢測。
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    據(jù)了解，該測試設(shè)備采用自動化處理，智能的圖像算法，支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別。采用真空吸嘴，自定位，雙視野視覺系統(tǒng)，實現(xiàn)芯片位置與角度的自動調(diào)整。主要用于光電生產(chǎn)企業(yè)的LD芯片（BAR條）光電性能檢測，可測試長波長激光器BAR條的超低溫、高溫條件下的前光、背光的LIV參數(shù)和光譜參數(shù)。

該款產(chǎn)品也將在即將于深圳舉辦的光博會CIOE上重點展出，歡迎您蒞臨4號館#4D75，獵奇智能的展臺，進(jìn)一步參觀交流。

展會名稱：中國國際光電博覽會（CIOE）
展示時間：2021年9月16日-18日
展出地點：深圳國際會展中心（寶安新館）
展館：4號館
展位號：4D75