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應(yīng)用分享丨光子引線鍵合(PWB)與3D打印光學(xué)微透鏡技術(shù)在混合集成外腔激光器中的創(chuàng)新應(yīng)用

光纖在線編輯部  2024-10-25 19:29:13  文章來源:原文轉(zhuǎn)載  

導(dǎo)讀:可調(diào)激光器在集成光學(xué)中起著關(guān)鍵作用,尤其是混合集成外腔激光器(ECL),因?yàn)樗軌蛴行ЫY(jié)合直接帶隙III-V材料增益元件的光學(xué)放大與先進(jìn)的被動光子集成電路(PIC)所提供的可調(diào)光反饋。這種反饋電路可通過硅光子(SiP)平臺或氮化硅(Si3N4)波導(dǎo)實(shí)現(xiàn),后者具備比硅光子電路更低的線性和非線性損耗。

10/25/2024,光纖在線訊,可調(diào)激光器在集成光學(xué)中起著關(guān)鍵作用,尤其是混合集成外腔激光器(ECL),因?yàn)樗軌蛴行ЫY(jié)合直接帶隙III-V材料增益元件的光學(xué)放大與先進(jìn)的被動光子集成電路(PIC)所提供的可調(diào)光反饋。這種反饋電路可通過硅光子(SiP)平臺或氮化硅(Si3N4)波導(dǎo)實(shí)現(xiàn),后者具備比硅光子電路更低的線性和非線性損耗。這種設(shè)計(jì)不僅提升了基于諧振腔反饋電路的內(nèi)在Q因子,還消除了在高功率條件下的雙光子吸收(TPA),顯著降低相位噪聲,最終實(shí)現(xiàn)小線寬輸出。

然而,將III-V增益元件和可調(diào)外腔電路在芯片級封裝中的共同集成依然面臨挑戰(zhàn)。一種集成方法稱為“異構(gòu)集成”,即將III-V材料層(如InGaAsP)直接轉(zhuǎn)移到已有的硅或氮化硅PIC電路上,這樣可以實(shí)現(xiàn)高密度單片集成。但是,這個過程涉及到的工藝非常復(fù)雜,主要應(yīng)用在硅光子平臺上,但技術(shù)難度和成本都很高。

另一種方法是將III-V芯片和被動反饋電路分別加工在不同襯底上,然后在緊湊的多芯片模塊中進(jìn)行混合集成。這種方法允許單獨(dú)優(yōu)化和測試每個組件,并促進(jìn)增益元件與溫度敏感反饋電路之間的熱解耦。然而,混合光子多芯片模塊的組裝極度依賴基礎(chǔ)光學(xué)芯片的高精密對準(zhǔn)。為確保各個芯片之間的光耦合效率,需要在組裝過程中進(jìn)行“主動對準(zhǔn)”,即不斷調(diào)整和優(yōu)化。這種復(fù)雜的操作會降低制造速度和效率,因此難以實(shí)現(xiàn)大規(guī)模、成本效益高的生產(chǎn)。

新型基于Si3N4的混合集成ECL

本文通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了一種新型的基于Si3N4的混合集成ECL,采用光子引線鍵合(PWB)技術(shù),將其用作反射半導(dǎo)體光放大器(RSOA)和外部反饋電路之間的耦合元件。PWB是在一個完全自動化的工藝過程中原位(in-situ)制造的,這意味著它們是在裝配過程中直接定制成型。這種定制設(shè)計(jì)能夠使PWB的形狀與兩端芯片的模式場大小和位置精確匹配。即使不同波導(dǎo)的截面尺寸差異很大,或者芯片的放置精度有局限性,PWB仍然能實(shí)現(xiàn)低耦合損耗。該設(shè)計(jì)減少了對主動對準(zhǔn)的依賴,從而提高了制造效率和可擴(kuò)展性。

在概念驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)中,團(tuán)隊(duì)展示的ECL具備90 nm的調(diào)諧范圍(1480 nm–1570 nm),芯片輸出功率超過12 dBm,邊模抑制比(SMSR)高達(dá)59 dB。研究團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)了979 Hz的本征線寬,這在類似的反饋架構(gòu)中是非常低的值。在實(shí)際應(yīng)用中,PWB作為腔內(nèi)耦合元件的光學(xué)損耗約為1.6 ± 0.2 dB。

在輸出端,Si3N4反饋電路通過3D打印的附面微透鏡(FaML)與單模光纖陣列相連接,微透鏡能夠高效地將光信號耦合至光纖中。3D打印技術(shù)的優(yōu)勢在于可以精確定制微透鏡的形狀,以滿足不同應(yīng)用的特定需求。為了驗(yàn)證這款ECL的性能和應(yīng)用潛力,研究團(tuán)隊(duì)將其用作窄線寬可調(diào)諧泵浦激光器,以生成耗散Kerr孤子(DKS)頻率梳,展示了在高性能光學(xué)系統(tǒng)中的巨大潛力和廣泛的應(yīng)用前景。


圖1. 帶有3D打印腔內(nèi)光子引線鍵合(PWB)和附面微透鏡(FaML)的混合集成ECL模塊的概念示意圖


該設(shè)備由兩個芯片構(gòu)成,均安裝在一個公共鋁基座上:一個是安裝在銅散熱器上的InP反射型半導(dǎo)體光放大器(RSOA),另一個是基于Si3N4的外腔電路,輸出端連接到光纖陣列。設(shè)備通過附在鋁基座上的PCB進(jìn)行控制,PCB與基座緊密相連。

圖1(b)InP RSOA和Si3N4芯片的俯視圖。Si3N4芯片包含一個采用Vernier調(diào)諧的橢圓形諧振器R1和R2的Sagnac環(huán)鏡、一個腔相調(diào)諧器(CPT),以及基于MZI的可調(diào)輸出耦合器。InP RSOA的后面端面經(jīng)過高反射(HR)涂層處理,前面則具有抗反射(AR)涂層,且前面以9.0°的角度切割。PWB用于填補(bǔ)RSOA前面與Si3N4芯片上邊緣耦合器(EC)之間的306 μm間隙,該邊緣耦合器由一條錐形波導(dǎo)(WG)組成,傾斜角度為19.9°。PWB的應(yīng)用使得即便芯片兩端的發(fā)射方向不匹配,也能實(shí)現(xiàn)良好的光耦合,體現(xiàn)了設(shè)備在芯片對準(zhǔn)和光學(xué)連接上的靈活性。

在該設(shè)備中,CPT的長度為1 mm,Vernier橢圓形諧振器的周長分別為885.1 μm(R1)和857.4 μm(R2)。四個輔助波導(dǎo)(WG2至WG5)和輸出波導(dǎo)(WG1)被布置在Si3N4芯片邊緣,并與相應(yīng)的漸變EC連接,間距為127 μm。所有五個波導(dǎo)端口通過3D打印的FaML與單模光纖(SMF)陣列耦合。

圖1(c)展示了模塊的側(cè)視圖。每個PWB的端部配備了額外的連接結(jié)構(gòu),以增強(qiáng)機(jī)械穩(wěn)定性。Si3N4的橢圓形諧振器、MZI和CPT通過熱相位調(diào)諧器進(jìn)行調(diào)節(jié),CPT用于調(diào)整腔回路相位,以確保最大鏡面反射率對應(yīng)的波長為2π的整數(shù)倍;贛ZI的可調(diào)輸出耦合器則用于設(shè)置從激光腔中提取的光與反饋到RSOA的光之間的比例。

ECL模塊組裝與性能表征

在模塊組裝的第一步中,RSOA通過導(dǎo)電膠粘貼到銅散熱器上,隨后與Si3N4芯片粗略對準(zhǔn),并一起固定在鋁基座上(如圖1(a)所示)。鋁基座上的階梯結(jié)構(gòu)用于調(diào)整RSOA芯片與Si3N4外腔芯片波導(dǎo)層的高度。PWB軌跡取決于RSOA和Si3N4外腔芯片端面的具體位置和發(fā)射方向,如圖1(b)所示。

外腔(EC)依賴于光點(diǎn)尺寸轉(zhuǎn)換器(SSC),其設(shè)計(jì)通過減小Si3N4頂層的厚度和兩個疊層Si3N4條帶的寬度,同時(shí)保持中間SiO?層的厚度不變。在我們的設(shè)備中,頂層Si3N4的厚度從常規(guī)的175 nm逐漸減小到接近端面的零厚度,最終僅保留底層Si3N4條帶的75 nm厚度。

在芯片輸入處,Si3N4條帶的初始寬度為2 μm,并在錐形部分的末端減小到標(biāo)準(zhǔn)寬度1.1 μm。這種設(shè)計(jì)使得測得的橢圓模式場尺寸為7.2 μm(水平)和4.6 μm(垂直)。為了最佳地與芯片端面的模式場尺寸匹配,PWB的矩形截面設(shè)計(jì)為寬度8.0 μm和高度5.0 μm。

在實(shí)施中,PWB填補(bǔ)了RSOA與Si3N4芯片之間306 μm的間隙。RSOA側(cè)的PWB具有初始橫截面4.0 μm × 4.0 μm,以匹配RSOA端面的模式場尺寸。PWB的橫截面隨后減少到常規(guī)的2.4 μm × 2.0 μm。在Si3N4芯片的端面,PWB上調(diào)至上述的最終橫截面8.0 μm × 5.0 μm,以連接到片上Si3N4外腔。PWB在這兩段之間保持常量橫截面2.4 μm × 2.0 μm,同時(shí)軌跡描繪出一個弧形,以順利連接兩端的邊緣耦合波導(dǎo)(WG),盡管它們的發(fā)射方向差異顯著。在RSOA和Si3N4芯片的端面上打印的附加結(jié)構(gòu)改善了PWB的機(jī)械穩(wěn)定性,如圖1(c)所示。

Si3N4芯片的輸出端依賴于五個相同的附面微透鏡(FaML),這些透鏡被打印到光纖陣列(FA)的端面。這些FaML是專門為外腔芯片的輸出端設(shè)計(jì),以便與光纖陣列(波導(dǎo)端口1-5)進(jìn)行有效耦合。外腔再次依賴一對Si3N4條帶,這些條帶從標(biāo)準(zhǔn)寬度1.1 μm向端面縮減至最終寬度0.8 μm,底部的Si3N4層保持75 nm的恒定厚度,而上層的厚度則從175 nm降至零。

通過這種設(shè)計(jì),最終的模式場尺寸在兩個方向上均為7.5 μm。FaML的長度為70 μm,提供了透鏡尖端與Si3N4波導(dǎo)端面之間的工作距離為50 μm。因此,F(xiàn)A與Si3N4芯片端面之間的距離為120 μm,如圖1(b)所示。

PWB和FaML均采用一種負(fù)光刻膠材料(VanCoreA,Vanguard Automation GmbH,德國;折射率n = 1.53)通過原位多光子光刻技術(shù)制造。制造完成的PWB和FaML在PGMEA中顯影,隨后用異丙醇沖洗并進(jìn)行吹干。FA上FaML的制作是在PWB制造之后的一個獨(dú)立步驟,使用3D打印技術(shù)完成,并由定制的貼裝機(jī)組裝。

圖2(a)展示了完全組裝的ECL模塊的顯微鏡圖像,包括假色的PWB和相應(yīng)截面的掃描電子顯微鏡(SEM)圖像,以及FA上五個FaML的顯微鏡圖像。


圖2. ECL模塊的實(shí)現(xiàn)和性能表征


(a) 根據(jù)圖1(a)組裝的ECL模塊的顯微鏡圖像。插圖(i) 展示了掃描電子顯微鏡(SEM)圖像,該圖像通過虛假著色處理,展示了光子引線鍵合(PWB)在RSOA和Si3N4芯片之間的連接。通過不同位置的橫截面標(biāo)記,可以觀察到PWB在光傳播過程中的形狀變化及其對光學(xué)耦合的影響。插圖(ii)展示了光纖陣列(FA)上的五個附面微透鏡(FaML)的顯微鏡圖像。它們的間距為127 μm,并且正對著Si3N4芯片上相應(yīng)的波導(dǎo)端口(Ports 1至5)。這種設(shè)計(jì)確保了光纖和波導(dǎo)之間的高效耦合,減少了光損耗。

(b) 在1550 nm波長下,ECL模塊的輸出功率(Pout)與注入電流(I)之間的關(guān)系。可以觀察到閾值電流為19 mA,平均斜率效率為132 mW/A(用虛線直線擬合)。

(c) ?展示了在注入電流為100 mA時(shí),ECL的激光光譜疊加圖。激光的調(diào)諧范圍為1480 nm至1570 nm,以5 nm的步幅進(jìn)行調(diào)諧。在1525 nm附近,最大芯片輸出功率達(dá)到12 dBm。

(d) 展示了FM噪聲譜,包含擬合的藍(lán)色虛線。固有(洛倫茲)線寬為δf = πS0 = 979 Hz,這一數(shù)值通過實(shí)線擬合得到。

PWB和3D打印光學(xué)微透鏡技術(shù)在混合集成ECL中的關(guān)鍵作用

本研究還詳細(xì)驗(yàn)證了混合集成ECL的多功能性,該設(shè)備成功用作窄線寬可調(diào)諧泵浦激光器,并首次在高品質(zhì)因數(shù)的Si3N4微諧振器中實(shí)現(xiàn)了單孤子Kerr頻率梳的生成(詳細(xì)內(nèi)容請參見《JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY》,第41卷,第11期,2023年6月)。頻率可調(diào)的混合集成ECL在相干通信、光學(xué)相干斷層掃描(OCT)等領(lǐng)域中具有潛在的應(yīng)用前景。

本文探討了PWB和FaML技術(shù)在混合集成ECL中的關(guān)鍵作用,分析了它們在提升激光器性能、降低制造成本以及簡化組裝過程方面的貢獻(xiàn)。PWB技術(shù)通過高效的光連接實(shí)現(xiàn)了III-V增益元件與被動光子集成電路之間的無縫耦合,消除了傳統(tǒng)組裝中對高精度對準(zhǔn)的依賴。該技術(shù)采用多光子光刻工藝,能夠在制造過程中原位定制形狀,適應(yīng)不同芯片之間的模式場尺寸和位置差異,從而確保低耦合損耗。

FaML技術(shù)利用先進(jìn)的3D打印技術(shù)制造微光學(xué)結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)超高的定位精度和優(yōu)良的光束整形效果,顯著減少光損耗并實(shí)現(xiàn)更高的傳輸效率。該技術(shù)能夠根據(jù)具體應(yīng)用需求精確設(shè)計(jì)微透鏡的幾何形狀和結(jié)構(gòu),從而優(yōu)化光耦合效果,并保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性。

PWB和FaML技術(shù)的結(jié)合為滿足不斷增長的市場需求提供了強(qiáng)有力的支持,推動光子集成電路的發(fā)展,提升光電子器件的整體競爭力。

如需了解這兩項(xiàng)技術(shù)及相關(guān)產(chǎn)品的詳細(xì)信息,請聯(lián)系凌云光公司400-829-1996

參考文獻(xiàn):Maier, Pascal, et al. “Sub-kHz-Linewidth External-Cavity Laser (ECL) With Si3N4 Resonator Used as a Tunable Pump for a Kerr Frequency Comb.” *Journal of Lightwave Technology*, vol. 41, no. 11, June 2023, pp. 3479–3490.

關(guān)于Vanguard Automation公司
Vanguard公司成立于2017年,位于德國卡爾斯魯厄,是德國卡爾斯魯厄理工學(xué)院(KIT)孵化企業(yè),公司獨(dú)創(chuàng)3D打印光子引線鍵合(Photonic Wire Bonding, PWB)和微光學(xué)組件技術(shù),專注于光子集成芯片耦合和封裝應(yīng)用。Vanguard的設(shè)備和技術(shù)廣泛應(yīng)用在光電子集成芯片封裝制造領(lǐng)域,包括電信/數(shù)據(jù)通信高速光模塊、3D傳感、光計(jì)算等方向。

關(guān)于凌云光技術(shù)股份有限公司
凌云光(股票代碼:688400)是一家以光技術(shù)創(chuàng)新為基礎(chǔ),圍繞機(jī)器視覺與光纖光學(xué)開展業(yè)務(wù)的高科技企業(yè)。公司致力于成為視覺人工智能與光電信息領(lǐng)域的全球領(lǐng)導(dǎo)者。在光纖光學(xué)領(lǐng)域,凌云光深耕科學(xué)通信、電信通信、數(shù)據(jù)通信、光纖激光和光纖傳感等五大應(yīng)用領(lǐng)域,結(jié)合國際先進(jìn)技術(shù)與自主研發(fā)產(chǎn)品,為客戶提供高品質(zhì)的光纖器件與儀器解決方案,助力中國光技術(shù)領(lǐng)域的科技進(jìn)步和產(chǎn)業(yè)化發(fā)展。更多詳情,歡迎瀏覽凌云光官方網(wǎng)站www.lusterinc.com,或者撥打凌云光電話400-829-1996。
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