7/05/2024，光纖在線訊，Santec 掃描測(cè)試系統(tǒng)以其高速分析、高分辨率和高準(zhǔn)確性，為光子測(cè)試提供了一個(gè)完整而高效的解決方案。系統(tǒng)主要由可調(diào)諧激光器（TSL系列）、光功率計(jì)（MPM系列）、偏振控制器（PCU）和定制軟件組成，能夠優(yōu)化WDL和PDL的測(cè)量。用戶可以根據(jù)特定需求定制軟件，提高測(cè)試的靈活性和適應(yīng)性。Santec 的掃描測(cè)試系統(tǒng)以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用范圍，是光學(xué)測(cè)試的理想選擇。

      
特點(diǎn)
·  超寬調(diào)諧范圍：支持1240至1680 nm的波長(zhǎng)范圍，滿足多樣化測(cè)試需求。
·  高重復(fù)性：確保測(cè)試結(jié)果的一致性。
·  多通道測(cè)量：能夠同時(shí)進(jìn)行多通道測(cè)量，提高測(cè)試效率。
·  定制化軟件支持：用戶可以根據(jù)特定需求定制軟件。
·  高速分析：系統(tǒng)能夠快速進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)確保測(cè)試的即時(shí)性和準(zhǔn)確性。
·  實(shí)時(shí)功率參照：實(shí)時(shí)功率參照，確保測(cè)試的精確與高效。
·  高分辨率：采用先進(jìn)算法，實(shí)現(xiàn)波長(zhǎng)分辨率和測(cè)量準(zhǔn)確性的最大化。

應(yīng)用
·  光通信組件測(cè)試：光纖放大器、光開(kāi)關(guān)、耦合器、分路器等性能評(píng)估。
·  光子材料表征：用于研究和表征新型光子材料的特性。
·  光譜學(xué)分析：在光譜分析領(lǐng)域提供高精度的測(cè)量工具。
·  WDL和PDL測(cè)量：評(píng)估光纖和光通信系統(tǒng)中的損耗特性。
·  光信道監(jiān)測(cè)：監(jiān)測(cè)光通信系統(tǒng)中的信號(hào)質(zhì)量，確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆�(wěn)定性和可靠性。
·  DWDM組件測(cè)試：評(píng)估DWDM系統(tǒng)中使用的組件性能。

典型配置
      
搭配偏振控制器和光功率計(jì)的IL/PDL測(cè)量配置
      
搭配光功率計(jì)的IL測(cè)量配置
Santec掃描測(cè)試系統(tǒng)以其卓越的性能特點(diǎn)和多樣化的應(yīng)用場(chǎng)景，提供高效的測(cè)試解決方案。