5/09/2023，光纖在線訊，光電導(dǎo)探測(cè)器是利用半導(dǎo)體材料的光電導(dǎo)效應(yīng)制作的探測(cè)器。所謂光電導(dǎo)效應(yīng)，是指有輻射引起被照射材料電導(dǎo)率改變的一種物理現(xiàn)象。

     光電導(dǎo)探測(cè)器根據(jù)材料不同，可以工作在不同的波段，比如在近紅外波段的有PbS，PbSe，InGaAs,InP材料等，在長(zhǎng)于8um的波段有Te，Si摻雜，Ge 摻雜等.近年來(lái)光電探測(cè)器的研究發(fā)展迅速，尤其是在標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝下的Si光電探測(cè)器的發(fā)展已經(jīng)取得矚目的結(jié)果，并且也成功應(yīng)用在我們光通信的器件和設(shè)備當(dāng)中。

    無(wú)論哪種材料或者技術(shù)制作的光電探測(cè)器，都有一套根據(jù)實(shí)際應(yīng)用制定的評(píng)價(jià)體系，能夠科學(xué)的反應(yīng)各種光電探測(cè)器的共同因素，人們可以根據(jù)這套評(píng)價(jià)體系衡量探測(cè)器的性能的優(yōu)劣，比較各種探測(cè)器之間的差異，從而更加合理和正確的選擇和使用光電探測(cè)器。

   在評(píng)價(jià)體系中有一個(gè)非常重要的指標(biāo)是光譜效應(yīng)（spectral response）。光譜響應(yīng)是表征光電探測(cè)器的響應(yīng)度或探測(cè)率隨波長(zhǎng)而變化的性能參數(shù)。設(shè)波長(zhǎng)可變的光功率譜密度為Pλ，由于光電探測(cè)器的光譜選擇性，在其他條件不變的情況下，光電流將是光波長(zhǎng)的函數(shù)。記為iλ，于是光譜靈敏度Rλ。

為了測(cè)量光譜響應(yīng)度客戶可能采用的方法如下：



上圖的方法效率非常低，每個(gè)波長(zhǎng)點(diǎn)的測(cè)試，電腦都需要下發(fā)命令控制光源改變，再下發(fā)命令SMU測(cè)試并且讀取測(cè)試結(jié)果，多個(gè)波長(zhǎng)測(cè)試測(cè)試耗費(fèi)數(shù)小時(shí)的時(shí)間。   

Santec 基于最早光層的波長(zhǎng)掃描系統(tǒng)，開(kāi)發(fā)了新的電流計(jì)單板用于高速PD電流的測(cè)試，從而完成PD的快速波長(zhǎng)相應(yīng)測(cè)試。



Santec 提供完整的測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試軟件可以直接顯示測(cè)試曲線，或者按照客戶要求提供原始數(shù)據(jù)。


Santec 提供多款探測(cè)器:

•功率計(jì)MPM-211或者M(jìn)PM-215直接探測(cè)光功率
•電流計(jì)MPM-213測(cè)試PD響應(yīng)度用于OE測(cè)試
•MPM-212提供高速模擬輸出功能用于自動(dòng)耦合


MPM-213模塊指標(biāo)如下