10/31/2022，光纖在線訊，聯(lián)訊儀器全新推出 PXIe 精密電源/測量單元 S2012C。其最小測量分辨率達10fA/100nV，輸出電壓高達±200V。進一步拓展了PXIe源表的應(yīng)用場景，工程師可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 來測量低電流信號，同時PXIe SMU 的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性可實現(xiàn)晶圓級參數(shù)測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等多種應(yīng)用。




01.高精度
S2012C  分辨率高達10fA/100nV，電壓精度100μV，電流精度10pA ，可用于測量微小的泄漏電流等應(yīng)用場合，泄漏電流通常在pA級別，S2012C搭配3同軸測量端子，用于nA級以下小電流測試。

02.Adaptive PFC系統(tǒng)

用戶可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系統(tǒng)，用戶可根據(jù)負載特性，調(diào)整相關(guān)參數(shù)，獲得更精確，快速的輸出特性。

03.高速測量
S2012C 最高可支持1M的采樣率，NPLC和采樣率可根據(jù)需要設(shè)定，以滿足高速高精度的測量場景。

04.構(gòu)建多通道并行測試系統(tǒng)
基于PXIe的模塊化架構(gòu)便于構(gòu)建緊湊的并行多通道測試系統(tǒng)，可擴展至數(shù)百個通道來滿足晶圓級可靠性和并行測試需求。

05.直流I-V輸出能力


06.脈沖I-V輸出能力


SMU產(chǎn)品系列▼




▶關(guān)于聯(lián)訊

     聯(lián)訊儀器是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。主要專注于高速通信測試，光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域，可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計、光譜儀，通用數(shù)字源表等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE， 激光器芯片老化機，激光器芯片測試機，硅光晶圓測試機，功率芯片測試機，晶圓老化機，半導(dǎo)體參數(shù)測試機等高端測試設(shè)備。

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