3/14/2022，光纖在線訊，近日，昊衡科技分享了關(guān)于OLI白光干涉儀原理的介紹，白光干涉儀又名光纖微裂紋檢測(cè)儀，能精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。


圖1. OLI白光干涉儀

OLI原理如圖2所示，光源發(fā)出寬帶連續(xù)光被耦合器分為兩路，其中一束作為參考光，另一束作為探測(cè)信號(hào)光發(fā)射到待測(cè)光纖中。


圖2. 白光干涉儀原理

探測(cè)光在光纖中向前傳播時(shí)會(huì)不斷產(chǎn)生回波信號(hào)，這些回波信號(hào)光與參考光經(jīng)過反射鏡后反射在耦合器發(fā)生拍頻干涉，并被光電探測(cè)器檢測(cè)。電機(jī)控制反射鏡Z移動(dòng)進(jìn)而改變參考光光程。

依照光干涉理論，要發(fā)生干涉現(xiàn)象，其光程差需在相干長(zhǎng)度范圍內(nèi)，而寬譜光的相干長(zhǎng)度非常短，當(dāng)反射鏡移動(dòng)時(shí)，從DUT返回的回波信號(hào)與反射鏡相等距離的反射信號(hào)發(fā)生拍頻。


圖3. OLI距離-反射率曲線

通過對(duì)最終的拍頻信號(hào)處理，DUT鏈路上的每點(diǎn)反射回來信號(hào)的強(qiáng)度可以映射為該點(diǎn)的反射率（即曲線縱坐標(biāo)），DUT的實(shí)際干涉位置對(duì)應(yīng)反射鏡Z移動(dòng)的相應(yīng)距離（即曲線橫坐標(biāo)），從而形成了OLI距離-反射率曲線。

應(yīng)用
01.光纖微裂紋檢測(cè)
02.硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)
03.FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
04.光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)

測(cè)量原理
1、光源：白光
2、兩路光：參考光、信號(hào)光
3、兩路光在光程相同的地方發(fā)生干涉

昊衡科技
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司，專業(yè)從事工業(yè)級(jí)自校準(zhǔn)光學(xué)測(cè)量與傳感技術(shù)開發(fā)，也是國(guó)內(nèi)唯一一家實(shí)現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應(yīng)用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數(shù)測(cè)量、高精度分布式光纖溫度和應(yīng)變傳感測(cè)試。已與全球多個(gè)國(guó)家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。

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