11/24/2021,近日,致力于為光通信用戶提供更先進、更穩(wěn)定、更可靠的測試解決方案的昊衡科技,推出了一系列光學測量測試系統(tǒng)。其中高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)與光學矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)備受大家關(guān)注,為了便于大家選擇適合自己的產(chǎn)品,昊衡科技進行深度剖析,探究它們究竟有何不同之處。
OCI與OCI-V的不同之處主要有3方面,分別是測量原理、測量參數(shù)以及產(chǎn)品應用。
測量原理
高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)采用的是OFDR光頻域反射技術(shù),檢測待測光纖中背向瑞利散射信號,實現(xiàn)對光纖鏈路的全方位診斷;
光學矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)采用線性掃頻光源對帶測器件進行掃描,并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得各光學參數(shù)。
測量參數(shù)
高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)測量分布式插損、回損、光譜、群延時等光學參數(shù);光學矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)測量PDL(偏振相關(guān)損耗)、PMD(偏振模色散)、IL(插損)、GD(群延時)、CD(色散)等光學參數(shù)。
另外,在系統(tǒng)設備顯示上也有所差異,OCI顯示橫坐標為長度,縱坐標為反射;OCI-V顯示橫坐標為波長,縱坐標為各待測參數(shù),其含義是測量不同波長下的各參數(shù)值。
產(chǎn)品應用
高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)主要應用在光器件、光模塊測量,光纖長度精確測量,硅光芯片測量,光譜、群延時測量等。
光學矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)主要針對于無源器件(平面波導器件、硅光器件、波長可調(diào)器件、放大器等)測量。
相同點是OCI與OCI-V均產(chǎn)自昊衡科技,屬于國產(chǎn)自研產(chǎn)品,設備自校準,無需人為干預,穩(wěn)定性非常好,能精準測量各待測參數(shù)且極大節(jié)省測試時間,F(xiàn)在,大家都更加了解高分辨光學鏈路診斷系統(tǒng)(OCI)與光學矢量分析系統(tǒng)(OCI-V)吧,如有任何問題,歡迎大家咨詢!
關(guān)于昊衡科技
一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的高科技公司,專業(yè)從事工業(yè)級自校準光學測量與傳感技術(shù)開發(fā),也是國內(nèi)唯一一家實現(xiàn)OFDR技術(shù)商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品,主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數(shù)測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區(qū)企業(yè)建立良好的合作關(guān)系,并取得諸多成果。
電話:027-87002165
官網(wǎng):http://www.mega-sense.com/
公眾號:“昊衡科技”或“大話光纖傳感”