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昊衡科技重磅推出OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)

光纖在線編輯部  2021-03-23 16:27:54  文章來源:本站消息  版權所有,未經許可嚴禁轉載.

導讀:昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā),擁有OFDR核心技術,并成功推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產品。近期昊衡科技發(fā)布重磅新品---OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)。

3/23/2021,光纖在線訊,昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統(tǒng)研發(fā)和解決方案開發(fā),擁有OFDR核心技術,并成功推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產品。近期昊衡科技發(fā)布重磅新品---OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)。
 

圖1 :OCI-V 設備圖

隨著高速光通信發(fā)展,光器件種類多、迭代快,對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域,其對儀表測量精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰(zhàn)。OCI-V光學矢量分析系統(tǒng)能夠同時測量光學網絡損耗、偏振、色散等信息,分析光器件在寬譜、精細波長下的損耗和時延。其功能強大、操作方便,在光器件的研發(fā)、生產全過程中發(fā)揮重要作用,為改善設計、優(yōu)化結構和評估工藝等提供可靠依據。
OCI-V光學矢量分析系統(tǒng),原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學參數。系統(tǒng)測量長度200m,可工作在C+L或O波段,具有測量范圍大、波長范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數多等優(yōu)勢。
 

圖2:PDL測量圖
 

圖3:PMD測量圖

OCI-V系統(tǒng)采用獨特光路設計以及先進算法,進行智能校準,測量穩(wěn)定性好,操作簡單,可極大節(jié)省測試時間。
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關鍵字: 昊衡科技 OCI-V 傳感
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