9/08/2020，光纖在線訊，2020年9月9-11日，MultiLane全系列高速互聯(lián)測試方案將在4號館4A305、306深圳市唐領(lǐng)科技展臺亮相，MultiLane覆蓋了高速測試儀器、互聯(lián)測試夾具模塊及工具、ATE測試系統(tǒng)等實用性研發(fā)、生產(chǎn)及現(xiàn)場測試產(chǎn)品。

     此次展會重點推出800G、400G革命性誤碼儀，除了傳統(tǒng)誤碼儀單通道53GBd的測量速率，還真正使用硬件方式進行FEC的測量而非過去的FEC的仿真功能。獨特的通道仿真功能，讓客戶可以模擬在不同損耗下的信號狀況。同時，串擾噪音作為一個特有的選項可集成在機器內(nèi)部，需要做電壓力及容限測試的客戶有了更多的選擇。配搭誤碼儀測試的光電采樣示波器也一并展出，豐富的數(shù)字濾波器、數(shù)字信號處理能力是測量53GBd及26GBd PAM4光電信號的一大亮點。


            
高速測試的相關(guān)夾具、模塊及分析工具也是此次展出的重點，CMIS分析工具是400G主機與模塊交互的非常有用的分析工具，智能Loopback模塊模擬功耗、發(fā)熱分布及損耗，大大提高主機廠商的研發(fā)和測試效率。
  


在國家大力發(fā)展半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的同時，MultiLane也擁有ATE測試系統(tǒng)，適用于高速I/O、RF driver及TIA等高速芯片的在線測試，此次將由上海巍測在展臺展出相應(yīng)的測試方案。
 


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